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JF1950-2021螺紋量規掃描測量儀校準規范(簡稱螺紋掃描儀)

1、標準光面圓柱環規（光面環規）

2、標準光面圓柱塞規(光面塞規）

3、標準光面圓錐環規（(光面錐環規）

4、標準光面圓錐塞規（光面錐塞規）

5、標準圓柱螺紋環規（圓柱螺紋環規）

б、標準圓柱螺紋塞規(圓柱螺紋塞規)

JF1950-2021螺紋量規掃描測量儀校準規范適用于軸截面雙向接觸掃描測量原理的螺紋量規掃描測量儀（簡稱螺紋掃描儀）的校準。

1、徑向測量示值誤差

螺紋掃描儀在被測螺紋量規直徑方向測量的示值誤差。

2、探測誤差

掃描一個理想直線或曲線時，螺紋掃描儀測量的尺寸和形狀示值誤差。通過測量標準圓柱不同位置的尺寸測量示值誤差及其變化進行評價。

3、錐度測量示值誤差

螺紋掃描儀測量光面圓錐量規錐度的示值誤差。用規定長度上直徑變化量的誤差(mm/mm)表達。

4、圓錐直徑測量示值誤差

螺紋掃描儀測量光面圓錐量規時，在安裝基面處（環規大端面，塞規小端面）直徑的示值誤差。

概述

螺紋掃描儀利用夾具對螺紋量規進行定位，使螺紋量規的軸截面與螺紋掃描儀的探針運動平面重合。探針在螺紋量規的軸截面對輪廓表面進行掃描，采集探針掃描軌跡的點集，并對點集進行分割處理和數學計算，獲得包括螺紋單一中徑、中徑、螺距、牙側角、錐度等參數的數據，也可以獲得作用中徑的值。探針運動平面的大小取決于螺紋掃描儀的徑向行程和軸向行程根據設計、探針、卡具的配置及軟件不同，螺紋掃描儀可以測量的螺紋量規尺寸、規格、螺紋牙形會有不同。螺紋掃描儀也可以測量光面圓柱和圓錐量規。

校準方法：

一、徑向測量示值誤差 AD

1.標準器分別選用3個光面圓柱環規和光面圓柱察規。*小量規直徑應不大于10mm，*大量規直徑應不小于測量范圍上限的60%。光面圓柱環規和光面圓柱塞規的直徑應分別采用不同的值，量規的直徑值應盡量均勻分布，覆蓋測量范圍。

2.測量標定用塞規或環規的標稱直徑應與標準器標稱直徑不同，即選擇與標準器直徑相鄰，差值較大的，但應保證校準和標定使用同一個卡具。當螺紋掃描儀軸向行程不大于60mm時，評價位置在量規的中部，掃描長度2mm。當螺紋掃描儀軸向行程大于60mm時，評價位置在量規的中部，并至少有一個量規在25mm和70mm處進行測量，掃描長度2mm。

3.探測誤差

1）標準器采用p10mm光面圓柱塞規，長度50mm。

2）測量配置針尖間距離15mm的探針。當螺紋掃描儀行程不小于50mm時，測量距量規端面3mm，25mm和47mm位置的直徑，掃描長度2mm。當螺紋掃描儀行程小于50mm時，測量距量規端面3mm，行程中點和距行程端點

3）mm位置的直徑，掃描長度2mm。

記錄測量位置和測得值。分別與三個位置的直徑參考值比較，輸出直徑示值誤差AD;、AD,和ADs。探測誤差AF=max(AD，AD2，AD,)-min (AD，AD，AD;)

4、錐度測量示值誤差ATP，ATR

測量標準光面圓錐塞規和環規。靠近定位面，掃描軸向長度20mm。計算對徑母線之間的來角，給出錐度值（單位:mm/mm).錐度的測得值與參考值的差作為內/外圓錐錐度測量示值誤差ATP，ATR。

5、圓錐直徑測量示值誤差AT，ATDR

利用測量獲得的母線，計算光面錐塞規的小端直徑和光面錐環規的大端直徑。光面錐塞規的小端直徑和光面錐環規的大端直徑的測得值(Dp，Dk)與參考值(Dpo，DRo)的差為錐度直徑測量示值誤差ATp，ATD。

6、螺紋參數測量示值誤差

測量標準圓柱/圓錐螺紋塞規和環規，檢驗螺紋掃描儀的綜合測量能力。

選擇圓柱/圓錐螺紋塞規和環規各2個規格，8只量規進行測量。8只量規的標稱尺寸應不同，*大規格應覆蓋到螺紋掃描儀測量范圍的60%。

對于具有特殊螺紋品種量規校準能力的螺紋掃描儀，應采用相應的標準螺紋量規進行驗證。例如梯形螺紋量規、石油螺紋量規等。